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表(biao)面(mian)等(deng)離子共振分析儀
簡(jian)要描(miao)述:表(biao)面(mian)等(deng)離子共振分析儀多(duo)參數(shu)表(biao)面(mian)等(deng)離子體激元的激發(fa)基(ji)於(yu)全內(nei)反射,壹(yi)束P型(xing)偏(pian)振光入射到(dao)導電的金膜上,金(jin)膜位(wei)於高折射(she)率(lv)的玻璃傳(chuan)感(gan)器和(he)低(di)折射(she)率(lv)的外部(bu)介(jie)質(氣(qi)體或(huo)液(ye)體)的介面(mian)處(chu)。在壹(yi)個(ge)特(te)定(ding)的角度,表(biao)面(mian)等(deng)離子體激元的激發(fa)導致反射光強(qiang)度降低(di)。介面(mian)處(chu)的輕(qing)微(wei)變(bian)化(如(ru):折射(she)率(lv)的變(bian)化或(huo)納米級(ji)薄膜厚度(du)的形成)將導致SPR信(xin)號(hao)的改變(bian),能(neng)夠實時(shi)地測量(liang)薄膜性質(zhi)以及(ji)表(biao)面(mian)分子間(jian)相(xiang)互作用(yong)。
城 市 :上(shang)海(hai)市
廠(chang)商性(xing)質:經銷商
更新時(shi)間(jian):2022-02-17
訪(fang) 問 量(liang):2991
產品(pin)介(jie)紹(shao)
| 產地類(lei)別 | 進(jin)口 |
|---|
1.多(duo)參數(shu)表(biao)面(mian)等(deng)離子共振分析儀原(yuan)理
多(duo)參數(shu)表(biao)面(mian)等(deng)離子體激元的激發(fa)基(ji)於(yu)全內(nei)反射,壹(yi)束P型(xing)偏(pian)振光入射到(dao)導電的金膜上,金(jin)膜位(wei)於高折射(she)率(lv)的玻璃傳(chuan)感(gan)器和(he)低(di)折射(she)率(lv)的外部(bu)介(jie)質(氣(qi)體或(huo)液(ye)體)的介面(mian)處(chu)。在壹(yi)個(ge)特(te)定(ding)的角度,表(biao)面(mian)等(deng)離子體激元的激發(fa)導致反射光強(qiang)度降低(di)。介面(mian)處(chu)的輕(qing)微(wei)變(bian)化(如(ru):折射(she)率(lv)的變(bian)化或(huo)納米級(ji)薄膜厚度(du)的形成)將導致SPR信(xin)號(hao)的改變(bian),能(neng)夠實時(shi)地測量(liang)薄膜性質(zhi)以及(ji)表(biao)面(mian)分子間(jian)相(xiang)互作用(yong)。表(biao)面(mian)等(deng)離子共振已經作為(wei)壹(yi)種(zhong)強(qiang)大(da)的方法用(yong)於(yu)監(jian)控(kong)液(ye)相(xiang)中(zhong)無標(biao)記(ji)的分子間(jian)相(xiang)互作用(yong)。但(dan)是(shi),今天的多(duo)參數(shu)表(biao)面(mian)等(deng)離子共振技術MP-SPR可(ke)以提供(gong)的信息(xi)和(he)數(shu)據遠超出動力(li)學常(chang)數(shu)和(he)平(ping)衡常(chang)數(shu)。
2.多(duo)參數(shu)表(biao)面(mian)等(deng)離子共振分析儀應(ying)用(yong)
蛋白結(jie)合、抗(kang)體/抗(kang)原(yuan)相(xiang)互作用(yong)、新藥(yao)開發(fa)、生物(wu)傳感(gan)器、食(shi)品(pin)安全、環境(jing)
監(jian)測、免(mian)疫(yi)響應(ying)、實驗開發(fa);
層(ceng)層(ceng)組裝、自組(zu)裝單層(ceng)膜、LB膜、生物(wu)薄膜、氣(qi)體傳(chuan)感(gan)器、聚合物(wu)薄膜、無
機物(wu)薄膜、材料(liao)科學、納米(mi)技術、納(na)米粒(li)子。
3.技術參(can)數
1.檢(jian)測原(yuan)理:多(duo)參數(shu)SPR基(ji)於(yu)真實測量(liang)角度的SPR裝置,使用(yong)的是(shi)旋(xuan)轉(zhuan)激光束
(真實角度(du)分辨(bian)率0.001°)
2.激光波長:每壹(yi)個(ge)通(tong)道(dao)670 nm(可(ke)配置(zhi)額(e)外波長的激光)
3.SPR Navi™ 掃(sao)描(miao)角(jiao)度(du)範(fan)圍(wei):40°–78°
4.工(gong)作模式
a.固(gu)定(ding)角模式—在(zai)壹(yi)個(ge)固(gu)定(ding)角(jiao)度下(xia)測量(liang)(光強(qiang)vs時(shi)間(jian)的sensogram圖譜,
“傳(chuan)統SPR”)
b.角(jiao)度(du)掃描(miao)模式—掃(sao)描(miao)過壹(yi)系(xi)列(lie)角(jiao)度(可測量(liang)多(duo)個參(can)數,比如(ru)光強(qiang)vs角度(du),
“MP-SPR”)
5.折射(she)率(lv)(RI)範(fan)圍(wei): 1.00 –1.40(本體),可(ke)以通過額外的波長進行(xing)擴(kuo)充(chong)
6.噪音(yin)水平(ping):短(duan)期噪音(yin)0.3μRIU,基(ji)線漂移(yi)(長期)<1 μRIU/min。
4.特(te)點(dian)
1.價格(ge)合(he)理的耗(hao)材
2.寬(kuan)角度(du)掃描(miao)實現(xian)了對(dui)顆(ke)粒(li)或(huo)多(duo)重結(jie)合的研(yan)究
3.獨(du)有的本體位(wei)移測量(liang)
4.無(wu)標(biao)記(ji)分子動力(li)學
5.選(xuan)擇(ze)增強(qiang)型SPR
6.測量(liang)樣品(pin)層(ceng)的特(te)性(xing)-厚度(du)和(he)折射(she)率(lv)(0.5-100nm和350nm-μms)
- 上(shang)壹(yi)篇(pian):彈(dan)道(dao)測試(shi)設備(bei)
- 下(xia)壹(yi)篇(pian):角(jiao)膜接觸(chu)鏡氙(xian)燈老(lao)化試(shi)驗箱

