透光(guang)率(lv)均(jun)勻(yun)性(xing)測試(shi)儀的(de)核心(xin)是(shi)通過(guo)多點(dian)采集(ji)樣(yang)本不同區(qu)域(yu)的(de)透光(guang)率(lv)數(shu)據(ju)，再(zai)通過(guo)計(ji)算分析差異來判(pan)定(ding)均勻(yun)性(xing)，其(qi)工作(zuo)原(yuan)理可拆(chai)解(jie)為(wei)光(guang)源(yuan)控制(zhi)、光(guang)路(lu)傳(chuan)導(dao)、信(xin)號檢測和(he)數據(ju)處(chu)理(li)四(si)個關(guan)鍵環(huan)節，具體(ti)如下(xia)：
壹、光源(yuan)：提供穩(wen)定(ding)可控的(de)入射光
測試(shi)儀的(de)光源系統需(xu)滿足光譜(pu)穩(wen)定(ding)、強(qiang)度恒(heng)定(ding)的(de)要求(qiu)，以確保(bao)入射光參(can)數壹致，避(bi)免因光源波(bo)動(dong)影(ying)響測量(liang)精度。
常(chang)用(yong)光源(yuan)包(bao)括(kuo)白(bai)光LED、氙燈或鹵鎢燈，部(bu)分高(gao)端儀器會配備單色(se)儀，可輸出(chu)特(te)定(ding)波長（如可見光550nm、紫(zi)外(wai)365nm）的(de)單色(se)光，適(shi)應不(bu)同材料(liao)（如玻(bo)璃(li)、薄(bo)膜(mo)）的(de)測試(shi)需(xu)求(qiu)。
光源(yuan)經透鏡(jing)或積分球(qiu)進(jin)行(xing)勻(yun)光(guang)處(chu)理(li)，使(shi)入射到(dao)樣(yang)本表面(mian)的(de)光線強(qiang)度分布(bu)均(jun)勻(yun)，減(jian)少光源(yuan)本(ben)身(shen)的(de)不均勻(yun)性(xing)對(dui)測量(liang)的(de)幹擾(rao)。
二、光路：精準(zhun)傳(chuan)導(dao)光(guang)線(xian)並定(ding)位測量(liang)點(dian)
光路(lu)設計(ji)的(de)核心(xin)是(shi)讓光線垂直(zhi)入射到(dao)樣(yang)本的(de)不同區(qu)域(yu)，並確保(bao)反射光、雜(za)散光被(bei)有(you)效排(pai)除。
機械定(ding)位系統：樣(yang)本臺通常(chang)可通過(guo)電機(ji)驅動實現(xian)X/Y軸移(yi)動(dong)，或采用(yong)陣列式(shi)探(tan)頭(tou)分布(bu)，按(an)預(yu)設間(jian)距（如5mm×5mm、10mm×10mm）自(zi)動(dong)定(ding)位測量(liang)點(dian)（常(chang)見點(dian)數為(wei)9點(dian)、16點(dian)或自(zi)定(ding)義(yi)網(wang)格）。
遮(zhe)光與(yu)準(zhun)直(zhi)：光路(lu)中會加入遮(zhe)光罩和(he)準(zhun)直(zhi)透鏡(jing)，使(shi)入射光成為平(ping)行(xing)光束(shu)，避(bi)免光線發散(san)導(dao)致(zhi)的(de)測量(liang)區(qu)域(yu)重疊(die)，確保(bao)每個測點(dian)的(de)光線僅來自(zi)樣(yang)本的(de)特(te)定(ding)微小(xiao)區(qu)域(yu)（通常(chang)直(zhi)徑1-3mm）。
三(san)、檢測：捕(bu)捉(zhuo)透射光並轉(zhuan)化(hua)為電(dian)信(xin)號
光線(xian)穿過(guo)樣(yang)本後，由(you)光(guang)電探(tan)測器接收並轉(zhuan)化(hua)為可量(liang)化(hua)的(de)電信(xin)號，這是(shi)測量(liang)的(de)核心(xin)環(huan)節。
探(tan)測器類型(xing)：常(chang)用(yong)矽(gui)光電(dian)二極(ji)管或(huo)光(guang)電倍(bei)增管，其(qi)靈(ling)敏度與(yu)光源(yuan)光譜(pu)匹配(pei)（如矽(gui)探(tan)測器對可見光響應良(liang)好(hao)），能將(jiang)透射光的(de)光強(qiang)轉化(hua)為對(dui)應的(de)電流或電壓信(xin)號。
信(xin)號放(fang)大(da)與(yu)濾(lv)波(bo)：微弱(ruo)的(de)電信(xin)號經放(fang)大(da)器放(fang)大(da)後，通過(guo)濾(lv)波(bo)電路去(qu)除(chu)環(huan)境(jing)光、電(dian)路(lu)噪(zao)聲等(deng)幹擾(rao)，確保(bao)信(xin)號的(de)穩(wen)定(ding)性和(he)準(zhun)確性(xing)。
四(si)、數據(ju)處(chu)理(li)：計(ji)算透光(guang)率(lv)並分析均勻(yun)性(xing)
通過(guo)對比(bi)入射光與(yu)透射光的(de)強(qiang)度，計(ji)算各(ge)點(dian)透光(guang)率(lv)，再(zai)通過(guo)統計(ji)分析得(de)出(chu)均(jun)勻(yun)性(xing)指(zhi)標(biao)。
透光(guang)率(lv)計(ji)算：某(mou)點(dian)透光(guang)率(lv)T=（透射光強(qiang)Iₜ/入射光強(qiang)I₀）×100%，其(qi)中I₀需在無(wu)樣(yang)本時(shi)預(yu)先校(xiao)準(zhun)（即(ji)“調零”或(huo)“基線(xian)校(xiao)準(zhun)”）。
均(jun)勻(yun)性(xing)分析：
計(ji)算所(suo)有(you)測點(dian)透光(guang)率(lv)的(de)最大(da)值（Tmax）、最小(xiao)值（Tmin）、平均值（Tavg）。
常(chang)用(yong)均勻(yun)性(xing)指(zhi)標(biao)包(bao)括(kuo)：
偏(pian)差率(lv)：（Tmax-Tmin）/Tavg×100%（反映最大(da)差異）；
標(biao)準(zhun)差：反映所有(you)測點(dian)與(yu)平均(jun)值的(de)離(li)散(san)程度，數(shu)值越(yue)小(xiao)則均(jun)勻(yun)性(xing)越(yue)好(hao)。
結果(guo)輸(shu)出(chu)：儀器通過(guo)顯示屏(ping)或軟件(jian)輸出(chu)各(ge)點(dian)透光(guang)率(lv)數(shu)值、分布(bu)熱(re)力(li)圖(tu)或(huo)均勻(yun)性(xing)等(deng)級（如合(he)格/不合(he)格），直(zhi)觀呈現(xian)樣(yang)本的(de)均勻(yun)性(xing)狀(zhuang)況(kuang)。
