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人工(gong)晶狀體(ti)檢(jian)驗(yan)設備(bei)
- 人工(gong)晶體(ti)光(guang)照(zhao)穩(wen)定試驗(yan)儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)低(di)測力(li)測厚(hou)儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)透(tou)過率(lv)測量儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)幹(gan)涉(she)儀
- 人工(gong)晶狀體(ti)曲(qu)率(lv)半徑(jing)測量儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)動態疲(pi)勞(lao)測試儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)壓縮(suo)力(li)測量儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)抗(kang)拉強(qiang)度測試儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)外(wai)觀(guan)測試儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)影(ying)像(xiang)測量儀(yi)
- 人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)分(fen)析儀(yi)
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- 人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)偏(pian)心(xin)測試儀(yi)的(de)溫濕度補償(chang)與(yu)長(chang)期穩(wen)定性驗(yan)證
- 人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)偏(pian)心(xin)測試儀(yi)的(de)功(gong)能(neng)及(ji)使(shi)用方(fang)法
- 人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)偏(pian)心(xin)測試儀(yi)測試原理說明(ming)
- 使(shi)用人工(gong)晶體(ti)光(guang)照(zhao)穩(wen)定試驗(yan)儀(yi)時應註意(yi)的(de)安(an)全事項
- 表(biao)面(mian)等離子共(gong)振分(fen)析儀(yi)技術(shu)原理有(you)哪(na)些呢(ne)
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產品展(zhan)示-
- 人工(gong)晶狀體(ti)影(ying)像(xiang)測量儀(yi) IOL-IMAGER
此設備(bei)是(shi)專為人工(gong)晶狀體(ti)幾(ji)何(he)外(wai)觀(guan)觀察(cha)與(yu)測量設計(ji)的(de)專業光(guang)學(xue)儀(yi)器(qi),適配研發、生(sheng)產質(zhi)控(kong)及合(he)規(gui)檢(jian)測場(chang)景。
- 訪(fang)問(wen)次(ci)數:776
- 更(geng)新(xin)日(ri)期(qi):2025-09-04 ¥面(mian)議
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- IM-3人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)偏(pian)心(xin)測試儀(yi)
人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)偏(pian)心(xin)測試儀(yi)的(de)測量原理:將(jiang)人工(gong)晶狀體(ti)置(zhi)於壹(yi)個處方(fang)直(zhi)徑(jing)(10或(huo)11mm)的(de)夾(jia)具(ju)內(nei)後(hou),測量其光(guang)學(xue)主(zhu)體(ti)部分(fen)的幾(ji)何(he)中(zhong)心(xin)和(he)夾具(ju)孔座(zuo)中(zhong)心(xin)之(zhi)間的偏移距(ju)離。 人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)偏(pian)心(xin)測量功(gong)能(neng)已(yi)經(jing)包含在(zai)IM-3中(zhong),無須(xu)單(dan)獨采(cai)購。
- 訪(fang)問(wen)次(ci)數:2600
- 更(geng)新(xin)日(ri)期(qi):2023-06-29 ¥面(mian)議
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- IOL-IMAGER(IM-3)人工(gong)晶狀體(ti)壓縮(suo)力(li)下(xia)軸向位移(yi)測試儀(yi)
人工(gong)晶狀體(ti)壓縮(suo)力(li)下(xia)軸向位移(yi)測試儀(yi) 測量原理:以未壓縮(suo)的狀態作(zuo)為(wei)參考(kao),當(dang)人工(gong)晶狀體(ti)被(bei)壓縮(suo)到壹(yi)個處方(fang)直(zhi)徑(jing)(10或(huo)11mm)時(shi),即(ji)被(bei)置(zhi)入壹(yi)個處方(fang)直(zhi)徑(jing)的(de)夾(jia)具後,測量沿光(guang)軸方(fang)向的位(wei)移(yi)(即(ji)垂直方(fang)向的位(wei)移(yi)變(bian)化) 人工(gong)晶狀體(ti)壓縮(suo)力(li)下(xia)軸向位移(yi)的(de)測量功(gong)能(neng)已(yi)經(jing)包含在(zai)IOL-IMAGER中(zhong),無須(xu)單(dan)獨采(cai)購。
- 訪(fang)問(wen)次(ci)數:2182
- 更(geng)新(xin)日(ri)期(qi):2023-06-29 ¥面(mian)議
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- LD-30B人工(gong)晶狀體(ti)軸向位移(yi)測試定(ding)制夾具(ju)
人工(gong)晶狀體(ti)軸向位移(yi)測試定(ding)制夾具(ju)(LD-30B)其采(cai)用了符合(he)ISO規(gui)範(fan)的(de)夾(jia)頭(tou),可(ke)將(jiang)人工(gong)晶狀體(ti)夾(jia)持到處方(fang)直(zhi)徑(jing),利用通用臥式(shi)輪廓投影(ying)儀(如(ru)三豐PH-3515F等)即能(neng)測量其變(bian)形(xing)量(即(ji)位移)。LD-30B自帶恒溫(wen)裝置(zhi),確保實(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)達到模擬人眼環境的要求。*適(shi)用於YY 0290.3-2008 / ISO 11979-3:2006 附錄(lu)B的內(nei)容。(本產品不包含臥(wo)式(shi)輪廓投影(ying)儀)
- 訪(fang)問(wen)次(ci)數:2083
- 更(geng)新(xin)日(ri)期(qi):2023-06-29 ¥面(mian)議
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- (IM-3)人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)傾(qing)角測試儀(yi)
人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)傾(qing)角測試儀(yi) 測量原理:將(jiang)人工(gong)晶狀體(ti)置(zhi)於壹(yi)個處方(fang)直(zhi)徑(jing)(10或(huo)11mm)的(de)夾(jia)具(ju)內(nei)後(hou),測量0-90-180-270度邊緣(yuan)四(si)個點(dian)的距離和(he)高度,計(ji)算出(chu)光(guang)學(xue)傾(qing)角。 人工(gong)晶狀體(ti)光(guang)學(xue)傾(qing)角測量功(gong)能(neng)已(yi)經(jing)包含在(zai)IOL-IMAGER中(zhong),無須(xu)單(dan)獨采(cai)購。
- 訪(fang)問(wen)次(ci)數:2097
- 更(geng)新(xin)日(ri)期(qi):2023-06-29 ¥面(mian)議
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- IM-3人工(gong)晶狀體(ti)接(jie)觸(chu)角(jiao)測試儀(yi)
人工(gong)晶狀體(ti)接(jie)觸(chu)角(jiao)測試儀(yi) 測量原理:將(jiang)人工(gong)晶狀體(ti)置(zhi)於壹(yi)個處方(fang)直(zhi)徑(jing)(10或(huo)11mm)的(de)夾(jia)具(ju)內(nei)後(hou),測量兩(liang)側襻與(yu)夾(jia)具(ju)內(nei)側(ce)0.25mm處的(de)交(jiao)點(dian)之間的(de)夾角。 人工(gong)晶狀體(ti)接(jie)觸(chu)角(jiao)測量功(gong)能(neng)已(yi)經(jing)包含在(zai)IOL-IMAGER中(zhong),無須(xu)單(dan)獨采(cai)購。
- 訪(fang)問(wen)次(ci)數:1760
- 更(geng)新(xin)日(ri)期(qi):2023-06-29 ¥面(mian)議
