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        1. 關(guan)鍵(jian)詞搜索(suo): 角膜接觸(chu)鏡(jing)老化試驗(yan)箱(xiang),角膜接觸(chu)鏡(jing)透(tou)過(guo)率測(ce)量儀,角膜接觸(chu)鏡(jing)接觸(chu)角測(ce)量儀,角膜接觸(chu)鏡(jing)規格(ge)尺寸(cun)測(ce)量儀,角膜接觸(chu)鏡(jing)厚度(du)測(ce)量儀,角膜接觸(chu)鏡(jing)折(zhe)光儀,角膜接觸(chu)鏡(jing)光學分(fen)析儀等,人(ren)工晶狀體(ti)壓(ya)縮力測(ce)量儀,人工晶狀體(ti)尺寸(cun)測(ce)試儀,人工晶狀體(ti)疲(pi)勞試驗(yan)儀等
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          技(ji)術文章(zhang)

          如何(he)判(pan)斷(duan)偏(pian)光鏡(jing)軸位(wei)測(ce)試儀是(shi)否需(xu)要清(qing)洗(xi)?

          偏(pian)光鏡(jing)軸位(wei)測(ce)試儀靠光學偏(pian)振原理檢(jian)測(ce)鏡(jing)片(pian)軸位(wei),其(qi)光學部件和關鍵(jian)區域的(de)潔凈(jing)度(du)直(zhi)接(jie)影(ying)響測(ce)量精(jing)度(du),可通過(guo)觀察(cha)外觀(guan)、檢(jian)測(ce)數據、查(zha)看(kan)設(she)備運行狀(zhuang)態(tai)這(zhe)三類(lei)方(fang)式判(pan)斷(duan)是(shi)否需(xu)要清(qing)洗(xi),具(ju)體如(ru)下:
           
          觀察(cha)核(he)心部(bu)件外觀汙(wu)漬
           
          這類測(ce)試儀的(de)光學部件是(shi)判(pan)斷(duan)是(shi)否清(qing)洗(xi)的(de)關(guan)鍵(jian)觀察(cha)點。壹(yi)方(fang)面看載(zai)物臺(tai),若放(fang)置鏡(jing)片(pian)的(de)平(ping)臺(tai)上有灰(hui)塵、指(zhi)紋(wen)、鏡(jing)片(pian)殘留(liu)的(de)擦拭紙屑或油(you)汙(wu),會(hui)導致鏡(jing)片(pian)放置(zhi)時無(wu)法(fa)貼合(he)平(ping)臺(tai),間接影(ying)響光軸(zhou)對(dui)齊(qi);另壹方(fang)面查(zha)看(kan)偏(pian)振鏡(jing)片(pian)、檢(jian)測(ce)鏡(jing)頭等(deng)核(he)心光學部件,透(tou)過(guo)觀察(cha)窗(chuang)若能(neng)看到(dao)鏡(jing)片(pian)表(biao)面有霧(wu)狀汙(wu)漬、劃痕(hen)旁附著(zhe)雜質(zhi),或明顯的(de)灰(hui)塵顆(ke)粒(li),這些(xie)雜質(zhi)會(hui)阻(zu)擋、折(zhe)射(she)偏(pian)振光,幹(gan)擾光線(xian)正常(chang)傳(chuan)播,此(ci)時(shi)就(jiu)需(xu)及時(shi)清(qing)洗(xi)。
           
          依(yi)據測(ce)量數據異(yi)常(chang)判(pan)斷(duan)
           
          若測(ce)量數據出(chu)現(xian)不穩(wen)定(ding)或偏(pian)差(cha)超標的(de)情(qing)況(kuang),排(pai)除(chu)鏡(jing)片(pian)本身(shen)問題(ti)和設(she)備校準問題(ti)後,大概率是(shi)儀器需(xu)要清(qing)洗(xi)。比如用(yong)已(yi)知標(biao)準軸位(wei)(如(ru)0°、90°、180°)的(de)標(biao)準偏(pian)光片(pian)測(ce)試時(shi),儀器顯示的(de)軸(zhou)位(wei)偏(pian)差(cha)持續超過(guo)±0.5°,且多(duo)次(ci)測(ce)量後偏(pian)差(cha)無(wu)改(gai)善;或是(shi)測(ce)量同(tong)壹鏡(jing)片(pian)時,多(duo)次(ci)讀數波動幅(fu)度(du)大,無(wu)法(fa)穩(wen)定(ding)得(de)出相(xiang)近(jin)結果(guo)。另外,若(ruo)測(ce)量時(shi)難以(yi)找到(dao)清(qing)晰的(de)消(xiao)光位(wei)置(zhi),視物(wu)時(shi)明暗邊(bian)界模(mo)糊(hu),導(dao)致軸(zhou)位(wei)判(pan)斷(duan)困難,這也(ye)是(shi)儀器光學部件有汙(wu)漬、需(xu)清(qing)洗(xi)的(de)信(xin)號。
           
          通過(guo)設(she)備運行狀(zhuang)態(tai)輔助判(pan)斷(duan)
           
          部分(fen)帶自(zi)動定(ding)位(wei)、光線(xian)調節功能的(de)偏(pian)光鏡(jing)軸位(wei)測(ce)試儀,運行狀(zhuang)態(tai)異(yi)常(chang)也(ye)能反(fan)映(ying)清(qing)潔需(xu)求。例(li)如儀器啟動後,光線(xian)調節模(mo)塊(kuai)頻(pin)繁自(zi)檢(jian)卻(que)無(wu)法(fa)達到(dao)設(she)定(ding)的(de)光線(xian)強(qiang)度(du);或自(zi)動對(dui)焦(jiao)時卡(ka)頓,無(wu)法(fa)快(kuai)速(su)聚(ju)焦(jiao)到清(qing)晰的(de)測(ce)量視場。這(zhe)可(ke)能是(shi)因(yin)為灰(hui)塵等(deng)雜質(zhi)堵(du)塞了(le)光線(xian)傳(chuan)感器,或是(shi)附著(zhe)在調節部件的(de)縫(feng)隙(xi)中,影(ying)響了(le)部件的(de)正(zheng)常運轉,這種(zhong)情(qing)況(kuang)下需(xu)對(dui)相(xiang)關(guan)部件進(jin)行清(qing)潔排(pai)查(zha)。
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