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      1. <dl id="Tp73Eb"></dl>

        1. 關鍵詞(ci)搜索: 角膜(mo)接(jie)觸鏡老(lao)化(hua)試驗(yan)箱,角膜(mo)接(jie)觸鏡透過(guo)率測(ce)量(liang)儀(yi),角膜(mo)接(jie)觸鏡接(jie)觸角測(ce)量(liang)儀(yi),角膜(mo)接(jie)觸鏡規(gui)格(ge)尺(chi)寸(cun)測(ce)量(liang)儀(yi),角膜(mo)接(jie)觸鏡厚度(du)測(ce)量(liang)儀(yi),角膜(mo)接(jie)觸鏡折(zhe)光(guang)儀(yi),角膜(mo)接(jie)觸鏡光(guang)學(xue)分(fen)析(xi)儀等(deng),人(ren)工(gong)晶狀(zhuang)體壓縮(suo)力(li)測(ce)量(liang)儀(yi),人(ren)工(gong)晶狀(zhuang)體尺(chi)寸(cun)測(ce)試儀,人(ren)工(gong)晶狀(zhuang)體疲(pi)勞試驗儀等(deng)

          妳(ni)的(de)位(wei)置(zhi):首頁(ye) > 產(chan)品(pin)展(zhan)示(shi) > 內窺鏡檢(jian)測(ce)設(she)備 > 內窺鏡檢(jian)測(ce)系統(tong) >內窺鏡光(guang)學(xue)檢(jian)測(ce)儀

          產品詳(xiang)細(xi)頁

          內窺鏡光(guang)學(xue)檢(jian)測(ce)儀

          簡要描述(shu):內窺鏡檢(jian)測(ce)系統(tong)是(shi)專門針對國(guo)家醫(yi)藥行(xing)業標(biao)準(zhun) YY 0068.1-2008(醫(yi)用(yong)內窺鏡 硬性(xing)內窺鏡 光(guang)學(xue)性(xing)能及測(ce)試方法) 推(tui)出(chu)的(de)集(ji)成測(ce)試系統(tong),可廣(guang)泛應用(yong)於設(she)備檢(jian)測(ce), 內窺鏡制造商(shang)研發,質量(liang)控(kong)制及內窺鏡售後維修等(deng)領域(yu). 該(gai)系(xi)統(tong)具備高(gao)測(ce)試精度(du)和高靈活(huo)度(du)的(de)特(te)點(dian), 可以(yi)測(ce)試腹(fu)腔(qiang)鏡,氣管鏡,關節鏡,膀胱鏡等(deng)多種(zhong)常(chang)用(yong)的(de)內窺鏡.
          本(ben)系(xi)統(tong)中光(guang)測(ce)量(liang)部分針對於部分內窺鏡的(de)光(guang)學(xue)照(zhao)明、成像特(te)性(xing)檢(jian)測(ce),不(bu)含(han)光(guang)譜(pu)分(fen)析(xi)內容的(de)測(ce)

          • 城  市   :上海(hai)市
          • 廠(chang)商(shang)性(xing)質:經(jing)銷(xiao)商(shang)
          • 更(geng)新時間:2021-12-16
          • 訪(fang)  問  量(liang):2526

          產(chan)品介紹

          品(pin)牌(pai)其他品牌(pai)產地(di)類(lei)別(bie)國(guo)產
          應(ying)用(yong)領域(yu)綜(zong)合

          壹、系統(tong)特(te)性(xing)

          視(shi)場角

          視(shi)向角

          角分(fen)辨力(li)

          有效景深範圍(wei)

          照(zhao)明變化(hua)率

          照(zhao)明均(jun)勻度(du)

          顯(xian)色性(xing)變化(hua)

           

          二(er)、系統(tong)測(ce)量(liang)參數(shu)

          可調(tiao)內窺鏡夾持(chi)座(zuo)

          三(san)維調(tiao)節(jie)測(ce)量(liang)靶標(biao)夾持(chi)座(zuo)

          多種(zhong)測(ce)試目標靶

          視(shi)場角靶標(biao)

          視(shi)向角靶標(biao)

          分(fen)辨率靶標(biao)

          畸(ji)變靶標(biao)

          圖(tu)像質量(liang)靶標(biao)

          靶標(biao)背(bei)光(guang)源(yuan)

          等(deng)光(guang)譜(pu)漫反(fan)射(she)目(mu)標(biao)板(ban)

          中(zhong)心定位(wei)機(ji)構

          微孔照(zhao)度(du)頭

          光(guang)譜(pu)儀(yi)

          標(biao)準(zhun)燈(deng)

          積(ji)分球

          便攜式(shi)機箱(xiang)


          三(san)、系統(tong)包(bao)含(han)內容:

          1.測(ce)試平(ping)臺(tai)

          直(zhi)線調節(jie)維(wei)度(du)        3 維(wei),x,y,z

          直(zhi)線調節(jie)範圍(wei)        100mm 最(zui)大

          旋(xuan)轉(zhuan)調節(jie)        1 維(wei)

          水(shui)平(ping)調(tiao)節範圍(wei)        +/-90 度(du)

          內窺鏡夾持(chi)機構(gou) 位(wei)置(zhi)   可調(tiao)節

          內窺鏡直徑範圍(wei)   0.5-2cm

          內窺鏡長度(du)範圍(wei)        5-50cm

          視(shi)場角範圍(wei)        <110 度(du)

          視(shi)向角範圍(wei)        0-90 度(du)

          2.等(deng)光(guang)譜(pu)漫反(fan)射(she)板(ban)

          尺(chi)寸(cun) 5 英寸(cun)

          漫反(fan)射(she)板(ban)反(fan)射(she)材料(liao) Spectralon

          漫反(fan)射(she)板(ban)反(fan)射(she)率  98%~99%

          反(fan)射(she)率溯(su)源(yuan):        NIST

          3.積(ji)分球

          積(ji)分球尺(chi)寸(cun)        4 英寸(cun)

          積(ji)分球塗層(ceng)        Spectraflect

          塗(tu)層(ceng)反(fan)射(she)率        96%-98%

          開口(kou)             帶(dai)標準(zhun)光(guang)源(yuan)輸(shu)入(ru)口(kou),

          探(tan)測(ce)器口(kou)及測(ce)量(liang)口(kou)

          測(ce)量(liang)口(kou)           開口(kou)帶(dai)可調(tiao)孔徑光(guang)闌(lan)

          探(tan)測(ce)器接(jie)口(kou)    可接(jie)探測(ce)器或光(guang)譜(pu)儀(yi)

          4.探(tan)測(ce)器

          可見光(guang)探(tan)測(ce)器    矽(gui)光(guang)度(du)探測(ce)器

          量(liang)程調(tiao)節(jie)            自(zi)動(dong)

          兩個探(tan)測(ce)器接(jie)口(kou) Labsphere0.5 英寸(cun)接(jie)口(kou)

          光(guang)度(du)計          可編(bian)程光(guang)度(du)/輻射(she)度(du)計

          可輸(shu)入(ru)參數(shu)         100 個

          量(liang)程調(tiao)節(jie)         自(zi)動(dong)調節(jie)

          5.標(biao)準(zhun)燈(deng):

          標(biao)準(zhun)燈(deng)類(lei)型(xing)         光(guang)通(tong)量(liang)鹵(lu)鎢燈(deng)

          標(biao)準(zhun)燈(deng)校(xiao)準(zhun)參數(shu)        350-1050nm

           光(guang)譜(pu)輻(fu)射(she)通量(liang)

          輻(fu)射通量(liang)較(jiao)準(zhun)精(jing)度(du)  <3%

          光(guang)通(tong)量(liang)校(xiao)準(zhun)精(jing)度(du)       <1%

          光(guang)通(tong)量(liang)溯(su)源標(biao)準(zhun) 美(mei)國(guo)    NIST 或

          中(zhong)國(guo)計量(liang)院(yuan)

          光(guang)譜(pu)儀(yi)(CDS-610 型(xing))

          波(bo)長範圍(wei)            350nm-1000nm

          探(tan)測(ce)器類(lei)型(xing)    2048 單(dan)元線陣(zhen) CCD

          探(tan)測(ce)器工(gong)作(zuo)溫(wen)度(du)  -10℃±0.05℃

          波(bo)長精確度(du)        ±0.3nm

          積(ji)分時間         8ms~20s

          動(dong)態範圍(wei)         1300:1

          非線性(xing)度(du)         ±0.2%

          6.其他

          輻(fu)照(zhao)度(du)測(ce)量(liang)頭

          照(zhao)度(du)探頭結構(gou)        積(ji)分球+漫射片(pian)

          積(ji)分球反(fan)射(she)材料(liao)   Spectralon

          積(ji)分球反(fan)射(she)率        >99%

          照(zhao)度(du)接(jie)受(shou)器面(mian)積(ji)   1cm2

          接(jie)收器(qi)面積        可切(qie)換至微孔


          四(si)、系(xi)統(tong)參數(shu)指(zhi)標

          系(xi)統(tong)采(cai)用(yong)便攜式(shi)設(she)計,便於現場檢(jian)測(ce)。拉(la)桿箱(xiang)式(shi)設(she)計,可以(yi)便於攜(xie)帶(dai),可以(yi)現場在(zai)箱(xiang)體上(shang)進行(xing)測(ce)試,或者置(zhi)於光(guang)學(xue)平(ping)臺(tai)上測(ce)試。

          系(xi)統(tong)含(han)多維調(tiao)整架,可以(yi)根據(ju)標準(zhun)要求,調(tiao)整(zheng)方位(wei)和角度(du),滿足各個測(ce)試條(tiao)件(jian)的(de)調(tiao)整(zheng)要求,調(tiao)整(zheng)範圍(wei)大,精(jing)度(du)高。

          系(xi)統(tong)兼容多種(zhong)內窺鏡結構(gou),可以(yi)根據(ju)不(bu)同的(de)內窺鏡結構(gou)替(ti)換(huan)夾具(ju)來(lai)適應不(bu)同的(de)內窺鏡。更(geng)換方(fang)式(shi)簡單(dan)易(yi)行(xing)。

          系(xi)統(tong)配(pei)備的(de)光(guang)學(xue)靶標(biao)是(shi)基於(yu)光(guang)學(xue)鍍(du)膜(mo)方式(shi)定制的(de)靶標(biao),準(zhun)確度(du)高,穩(wen)定性(xing)好, 是(shi)內窺鏡測(ce)試的(de)理(li)想(xiang)參考(kao)目(mu)標。

          系(xi)統(tong)采(cai)用(yong)的(de)等(deng)光(guang)譜(pu)漫反(fan)射(she)板(ban)具(ju)有非常(chang)好(hao)的(de)等(deng)光(guang)譜(pu)反(fan)射(she)特(te)性(xing),反(fan)射(she)率高(gao),朗(lang)伯特(te)性(xing)好,是(shi)理想(xiang)的(de)漫反(fan)射(she)測(ce)試標準(zhun)板(ban)。該(gai)板(ban)具(ju)有NIST 溯源的(de)反(fan)射(she)率測(ce)試標準(zhun)值, 對於測(ce)試結果(guo)有非常(chang)好(hao)的(de)參考(kao)意義(yi)。

          積(ji)分球采(cai)用(yong)高反(fan)射(she)率積(ji)分(fen)球,測(ce)試結果(guo)穩(wen)定可靠(kao)。

          系(xi)統(tong)配(pei)備光(guang)通(tong)量(liang)標(biao)準(zhun)燈(deng),標準(zhun)燈(deng)溯源(yuan)至 NIST,具有準(zhun)確的(de)光(guang)譜(pu)輻(fu)射(she)功率和光(guang)通(tong)量(liang)的(de)溯(su)源(yuan)值。對於測(ce)試結果(guo)具有非常(chang)重(zhong)要的(de)參考(kao)作(zuo)用(yong)。另(ling)外對於色(se)度(du)測(ce)量(liang)的(de)參考(kao)意義(yi)也(ye)非常(chang)大(da)。

          系(xi)統(tong)配(pei)備光(guang)譜(pu)儀(yi),含(han)有標準(zhun)的(de)光(guang)譜(pu)儀(yi)軟(ruan)件(jian),軟(ruan)件(jian)具有各種(zhong)光(guang)學(xue)參數(shu)測(ce)試分析(xi)的(de)內容,對於分(fen)析(xi)測(ce)試光(guang)參數(shu)具有非常(chang)大(da)的(de)幫(bang)助(zhu),也(ye)可以(yi)用(yong)於光(guang)源(yuan)的(de)測(ce)試。




           


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