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人工(gong)晶(jing)狀體(ti)檢驗設(she)備
- 人工(gong)晶(jing)體(ti)光照(zhao)穩定試驗儀(yi)
- 人工(gong)晶(jing)狀體(ti)低(di)測力(li)測(ce)厚(hou)儀(yi)
- 人工(gong)晶(jing)狀體(ti)透(tou)過率(lv)測(ce)量(liang)儀(yi)
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- 人工(gong)晶(jing)狀體(ti)光學(xue)分(fen)析(xi)儀(yi)
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產品(pin)詳細頁(ye)
人工(gong)晶(jing)狀體(ti)透(tou)過率(lv)測(ce)量(liang)儀(yi)
簡(jian)要描(miao)述(shu)：人工(gong)晶(jing)狀體(ti)透(tou)過率(lv)測(ce)量(liang)儀(yi)可對各(ge)類型晶(jing)體(ti)的光(guang)學(xue)特(te)性進行檢(jian)測(ce)。軟(ruan)件通(tong)過USB口(kou)與(yu)儀(yi)器(qi)聯機(ji)使(shi)用，儀(yi)器(qi)利(li)用光(guang)柵(zha)分(fen)光原(yuan)理，在200至(zhi)1000nm自動測出各(ge)類晶(jing)體(ti)的光(guang)學(xue)性(xing)能(neng)指標(biao)。如(ru)晶(jing)體(ti)光透(tou)射(she)比、近(jin)/遠(yuan)紫外(wai)平(ping)均(jun)透(tou)射(she)比等(deng)等(deng)。
城 市(shi) ：上海(hai)市(shi)- 廠商(shang)性(xing)質：經(jing)銷商(shang)
- 更新時間(jian)：2021-12-17
- 訪(fang) 問 量(liang)：1603
產品(pin)介紹
| 品(pin)牌 | 其他(ta)品(pin)牌 | 產(chan)地類別 | 進(jin)口 |
|---|---|---|---|
| 應(ying)用領(ling)域 | 綜(zong)合 |
符(fu)合(he)標(biao)準(zhun)：
本品(pin)的特(te)點(dian)是測(ce)量(liang)精(jing)度(du)高(gao)，可參(can)照的(de)行業(ye)標(biao)準(zhun)多，不(bu)僅(jin)適用於(yu)各(ge)行業(ye)國(guo)家(jia)標(biao)準(zhun)，並適用於(yu)多(duo)個(ge)歐盟(meng)標(biao)準(zhun)，美國(guo)標(biao)準(zhun)，日(ri)本國(guo)內標(biao)準(zhun)等(deng)等(deng)，符合(he)國(guo)際標(biao)準(zhun)ISO8980、EN1836、EN167、ENISO12313、ANSI Z80.3,國(guo)家(jia)標(biao)準(zhun)YY0290.2、GB10810.3、GB11417、QB2659、QB2457-99、QB2506-2001、QB2659-2004、GB/T14148強制(zhi)性標(biao)準(zhun)的各(ge)項光學(xue)性(xing)能(neng)指標(biao)。不(bu)僅(jin)在國(guo)內市(shi)場(chang)占有(you)優(you)勢，同(tong)時也適合(he)於出(chu)口或(huo)針對外貿(mao)品(pin)的檢(jian)測。
產品(pin)特點(dian)
1．連接PC使(shi)用，功能(neng)齊(qi)全，界面友好(hao)，操(cao)作靈活(huo)，多國(guo)語言，可用作出(chu)口(kou)眼(yan)鏡(jing)的(de)檢測。
2．人工(gong)晶(jing)狀體(ti)透(tou)過率(lv)測(ce)量(liang)儀(yi)可測(ce)類型全(quan)面(人工(gong)晶(jing)狀體(ti)、隱形(xing)眼(yan)鏡(jing)及(ji)各(ge)種玻(bo)璃(li)片等(deng))。
3．適用的(de)標(biao)準(zhun)較(jiao)全(國(guo)標(biao)，國(guo)際標(biao)準(zhun)，日(ri)本國(guo)內標(biao)準(zhun)，美國(guo)國(guo)家(jia)標(biao)準(zhun)，歐盟(meng)標(biao)準(zhun)，澳洲(zhou)標(biao)準(zhun)）。
4．人工(gong)晶(jing)狀體(ti)透(tou)過率(lv)測(ce)量(liang)儀(yi)（SR-02）自主(zhu)研發產品(pin)，擁有(you)先(xian)進(jin)的(de)技(ji)術(shu)。
5．可檢(jian)測晶(jing)體(ti)，也可針(zhen)對整副(fu)眼(yan)鏡(jing)（成(cheng)鏡(jing)）進(jin)行檢測，無(wu)需(xu)拆片。
6．單(dan)目檢測(ce)速度(du)是(shi)同(tong)類產品(pin)的5倍，單(dan)次檢(jian)測(ce)速度(du)最高(gao)可以(yi)達(da)到25秒。
7．采(cai)用專(zhuan)業(ye)的(de)技(ji)術(shu)和(he)算法(fa)，精(jing)度(du)較(jiao)同(tong)類產品(pin)要高(gao)。
8．可查(zha)詢所(suo)有(you)歷(li)史(shi)檢測(ce)記(ji)錄，可輸(shu)出歷(li)史(shi)操作的(de)檢(jian)測報(bao)告(gao)。
9．可顯(xian)示(shi)任(ren)意波長(chang)位(wei)置(zhi)的(de)透(tou)射(she)比，透(tou)射(she)比曲(qu)線可放大(da)。
10．可顯(xian)示(shi)和(he)輸(shu)出CIE色極(ji)限(xian)位(wei)置(zhi)圖(tu)。
適用範(fan)圍(wei)：
l 人工(gong)晶(jing)狀體(ti)
-光透(tou)過率(lv)
-近紫外(wai)透(tou)過率(lv)
-遠(yuan)紫外(wai)平(ping)均(jun)透(tou)過率(lv)
l 隱形(xing)眼(yan)鏡(jing)
-光透(tou)射(she)比
-近紫外(wai)透(tou)過率(lv)
-遠(yuan)紫外(wai)平(ping)均(jun)透(tou)過率(lv)
-黃色指(zhi)數(shu)
l 駕駛(shi)員鏡(jing)
-光透(tou)射(she)比
-光譜(pu)透(tou)射(she)率
-紫外(wai)透(tou)過率(lv)
-信號燈(deng)識(shi)別等(deng)
主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數(shu)
硬件規(gui)格 | |
波長(chang)準(zhun)確度(du) | ±0.5nm |
波長(chang)範圍(wei) | 200～1000nm |
波長(chang)重復(fu)性(xing) | ≤0.2nm |
光譜(pu)帶寬 | 1nm |
雜散(san)光 | ≤0.05% |
透(tou)射(she)比準(zhun)確度(du) | ±0.5% |
透(tou)射(she)比重(zhong)復(fu)性(xing) | ≤0.3% |
基線直(zhi)線性 | ±0.002A |
透(tou)射(she)比範(fan)圍(wei) | 0～100% |
吸(xi)光度(du)範(fan)圍(wei) | -0.301A～3.000A |
光度(du)精(jing)度(du) | ±0.5%T |
- 上(shang)壹篇(pian)：OPT-ETS68內窺鏡(jing)光(guang)學(xue)檢(jian)測儀(yi)
